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韓國團隊控制二維晶體成核位置,400 個區域有 397 個長成單晶
剩 68 秒
科技二維半導體

韓國團隊控制二維晶體成核位置,400 個區域有 397 個長成單晶

[快取]CACHE NEWS TAIWAN99.3%圖案化位置單晶良率科技2026.11.09 讀 68 秒
新製程把隨機成核變成指定位置生長,降低晶界造成的電性不一致。圖:快取新聞製圖 數字來源見文末

結論先講:KAIST 與 TDS Innovation 用氧形成橫向蝕刻通量,把晶體成長起點限制在圖案中心。測試中 400 個位置有 397 個形成單晶,良率達 99.3%。成果接近可擴大量產的方向,但離商用晶片仍有驗證距離。

99.3%
圖案化位置單晶良率
397處
成功長出單晶
2030年前後
團隊商業化目標
[ 3 個快取重點 ]20 秒版本
01

EF-SCN 製程利用氧化物阻障層釋放的氧,抑制中心以外的成核。

02

團隊已做出場效電晶體,載子移動率高於過去選擇性成長文獻紀錄。

03

團隊以 2030 年前後商業化為目標,實際時程仍取決於後續驗證。

01把晶體起點固定下來

二維材料若在同區域多點成核,晶體接合處會形成晶界;控制單一起點,才有機會讓元件表現一致。

01 大數字
99.3%

400 個圖案化位置中,397 處長成單晶。

02量產仍要跨過整合關

單晶良率只是起點,後續還要證明大尺寸均勻性、可靠度與既有矽製程的整合成本。

Bottom line

從能長出晶體到能穩定做晶片,中間仍隔著整條製造驗證鏈。

來源與方法
原始報導
科技新報
改寫方式
快取新聞不轉載原文。我們讀完原始報導後,用自己的話重寫成結論、三個重點與一張圖。數字均取自上列來源,未經我們獨立查證。
單位
「pt」為百分點,指兩個百分比的差,不是成長率。標示「預估」或斜線紋樣者為推估值,非已實現數字。

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圖案化位置單晶良率
397處
成功長出單晶
2030年前後
團隊商業化目標
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